Системы ИК-изображения являются продвинутыми, высокоскоростными версиями ИК-микроскопов с возможностью «картирования» образцов. Информация о молекулярном составе и структуре изучаемых образцов, получаемая с помощью систем Spectrum Spotlight 400/400N, является отличным дополнением к сведениям об образце, которые можно получить с помощью методов электронной микроскопии или тунельной/атомно¬силовой микроскопии. Учитывая, что ИК-спектр вещества является его «отпечатком пальцев», с помощью Spectrum Spotlight можно получить уникальную информацию о химическом составе образцов, выявить гомогенные области и определить неоднородности. Система способна идентифицировать малейшие различия в структуре или химическом составе, предоставляя, таким образом, важную информацию о составе образца, дефектах и примесях.

Spectrum Spotlight – система ИК - изображения с матричным детектором, использующая быстросканирующий спектрометр вместо дорогих и сложных в эксплуатации систем с пошаговым сканированием, применяемых в более старых системах этого типа. Система Spectrum Spotlight – отличный выбор для лабораторий, персонал которых недостаточно знаком с методом ИК - Фурье-спектроскопии – значительно упрощает сбор данных и их обработку.

Кроме работы в режиме картирования система Spectrum Spotlight обладает абсолютно всеми чертами традиционного ИК-микроскопа. Запатентованный компанией «PerkinElmer» детектор Duet, применяемый в приборе, объединяет на одной подложке линейку из нескольких узкополосноных MCT-детекторов и один среднеполосный MCT-детектор. Система способна работать не только в режиме построения «химической карты» образца, но и проводить съёмку ИК-спектра в отдельных его точках, при этом отсутствует необходимость в замене каких-либо компонентов прибора и его перенастройке.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ: