TTRAX III – первая в мире дифракционная система, собранная на базе мощного 18 кВт источника рентгеновского излучения, вращающегося анода и θ/θ конфигурации. В такой системе поверхность анализируемого образца всегда остается в горизонтальном положении, в то время как анод и детектор перемещаются по углам сканирования θ/θ вокруг образца. Такая схема позволяет проводить анализ свободных жидкостей при комнатной температуре, а также расплавов, полученных, например, в высокотемпературной приставке.

Гониометрическая система TTRAX III может быть эффективно использована для определения функций радиального распределения жидкостей и расплавов, исследования структуры поверхностных границ и изучения превращений кристаллической структуры в материалах в процессе высокотемпературного нагрева. Стандартная порошковая рентгеновская дифракция значительно упрощена за счет минимизации пробоподготовки. В зависимости от необходимости и специфики того или иного анализа могут быть использованы различные детекторы. Оптимальный детектор может быть выбран среди сцинтилляционных (SC), полупроводниковых, охлаждаемых методом Пелтье, твердотельных (SSD), изогнутых позиционно-чувствительных (Inel PSD) детекторов, либо “imaging plate” систем. Широко доступны и различные дифрактометрические приставки.

Новаторский универсальный оптический модуль CBO (Cross Beam Optics) позволяет чрезвычайно легко переключать прибор в различные режимы съёмки образца: фокусирующего метода, метода параллельного пучка многослойной пленки, малоуглового рентгеновского рассеяния, микроскопических размеров, отражения, высокого разрешения тонкой пленки или In-Plane.

ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ: