Rigaku Corporation
4-14-4, Sendagaya, Shibuya-Ku,
Tokyo 151-0051, JAPAN
Tel: +81 3-3479-0618
Система рентгеновской дифракции Ultima IV позиционируется производителем как наиболее универсальное решение для широкого круга задач – от фазового анализа, до анализа тонких плёнок и малоуглового рассеяния. Ultima IV – единственный на рынке дифрактометр с полностью автоматической юстировкой всей системы. Применённая в системе СВО-оптика позволяет исключить временные затраты при переходе от одной геометрии измерения к другой, допускает ежедневное использование обоих геометрий без необходимости перенастройки системы, не подвержена износу и выходу из строя в результате многочисленных переключений. Специально для исследования наноматериалов в дифрактометре предусмотрена опция малоуглового рассеяния (SAXS). Малоугловое рассеивание применяется для определения дальнего порядка, включая определение взаимодействия между частицами и их размер. Также дифрактометр Ultima IV может комплектоваться большим количеством разнообразных аксессуаров, включая опцию одновременного ДСК/РФА, высокотемпературный держатель образцов, пространственный детектор, приставку для рентгеновской рефлектометрии и т.п.
Технические характеристики
| Ключевые особенности |
Полностью автоматическая юстировка
Привод для сканирования в плоскости образца для in-plane измерений без перенастройки системы
Фокусирующая геометрия и геометрия параллельного пучка без перенастройки системы
Возможность измерения малоуглового рассеяния
Высокоскоростной линейный однокоординатный детектор D/teX Ultra с высоким разрешением (опция)
|
| Рентгеновская трубка |
Cu-анод (другие - опция), мощность 3 кВт* |
| Гониометр |
Радиус 285 мм. Методы сканирования - θs/θd связанные или θs, θd независимые/td>
|
| Диапазон углов сканирования 2θ |
-3° .. 162° |
| Детектор |
Сцинтилляционный счетчик (другие: опция) |
| Размеры |
1600 x 1100 x 800 мм
|
